X射線衍射儀（XRD）檢測(cè)樣品時(shí)有哪些要求？

　　X射線衍射儀是利用衍射原理，準(zhǔn)確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，準(zhǔn)確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。
　　X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。
　　1、高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線，改變管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。
　　2、樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
　　3、射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
　　4、衍射圖的處理分析系統(tǒng)，現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。
　　X射線衍射儀（XRD）檢測(cè)樣品時(shí)有哪些要求？
　　常規(guī)測(cè)試、結(jié)晶度分析、取向度測(cè)試、晶粒尺寸分析、物相分析、小角衍射。
　　1、送樣者在測(cè)試X射線衍射之前，請(qǐng)務(wù)必事先了解晶體學(xué)的基礎(chǔ)知識(shí)和X射線衍射的基本原理。為什么要用X射線衍射儀以及測(cè)試項(xiàng)目（晶型、晶粒尺寸、結(jié)晶度、取向度、物相分析等）；
　　2、送樣前，請(qǐng)用簡(jiǎn)單易記的英文字母（如：A,B,C…）和數(shù)字（如：1，2，3…）對(duì)樣品進(jìn)行編號(hào)等.
　　3、粉末樣品：須充分研磨，需0.2克左右；
　　4、片狀樣品：需有一個(gè)大于5?5mm（最佳為15?15mm）平整的測(cè)試面；
　　5、塊狀樣品：需有一個(gè)大于5?5mm（最佳為15?15mm）平整的測(cè)試面，如不平整，可用砂紙輕輕磨平，無厚度要求；
　　6、纖維樣品：
　　a、取向度測(cè)試：樣品須疏理整齊，最少需長(zhǎng)約30mm，直徑約3mm一束纖維（大約圓珠筆芯大小的一束絲）；
　　b、常規(guī)測(cè)試、結(jié)晶度、晶粒尺寸：樣品須充分剪碎，呈細(xì)粉末狀，需0.2克左右(大約一分錢硬幣的體積)；
　　7、液體樣品不能測(cè)試；